Standard IEC standard · IEC 60749-5:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Status: Upphävd

· Ersätts av: IEC 60749-5:2017
Köp denna standard

Standard IEC standard · IEC 60749-5:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 360 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 360 SEK
standard ikon

Papper

Fler alternativ Färre alternativ
Omfattning
Provides a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.

Ämnesområden

Allmänt Halvledarkomponenter (31.080.01)

Köp denna standard

Standard IEC standard · IEC 60749-5:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 360 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 360 SEK
standard ikon

Papper

Fler alternativ Färre alternativ

Produktinformation

Språk: Engelska Franska

Framtagen av: IEC

Internationell titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Artikelnummer: STD-562745

Utgåva: 1

Fastställd: 2003-01-17

Antal sidor: 13

Ersätter: IEC PAS 62161:2000 , IEC 60749:1996/AMD2:2001 , IEC 60749:1996/AMD1:2000 , IEC 60749:1996

Ersätts av: IEC 60749-5:2017